Nano İndentasyon

Marka / Model 

IBIS/IBIS Nanoindentation System

Özellikler

Nanoindentasyon Özellikleri:
Yük aralığı: 0‐500 mN
Dijital çözünürlük: 0.05 μN
Gürültü zemini: <1 μN
Minimum kontak yükü: 5 μN
Derinlik Aralığı: 0-20 μm
Dijital çözünürlük: 0.003 nm
Gürültü tabanı: 0.05 nm
Yüzey pürüzlülüğü: <1 μm

Kazıma Testi Özellikleri:
Yanal kuvvet aralığı: ± 20 mN / ± 200 mN çift aralık
Teorik çözünürlük: 0.0006 mN / 0.006 mN
Gerçek gürültü tabanı: 0,005 mN / 0,01 mN
Maksimum kazıma uzunluğu: 66 mm standart
Maksimum kazıma hızı: 2000 μm/sn

Amaç 

Nano indentasyon test cihazı değişik malzemelerden oluşturulan ince filmlerin mekanik özelliklerini
(sertlik, elastisite modülü) belirlemekte kullanılır. Uygun bir indenter kullanılarak örnek yüzeyine
dik olacak şekilde belirlenen bir maksimum değere kadar yük uygulanır ve bu maximum
yük değerine ulaştıktan sonra tekrar dereceli olarak geri yükleme yapılır. Yükleme ve geri yükleme
sonucunda elde edilen Yük (N) – Derinlik (nm) eğrileri analiz edilerek numunenin mekanik özellikleri
belirlenir.
Kazıma test cihazı ince film ve kaplamaların yüzeylerinin kırılma, deformasyon
ve yapışma gibi mekanik özelliklerini belirlemek için kullanılır. Aynı zamanda
altlık ve film sisteminin sürtünme ve yapışma kuvvetini karakterize etmede kullanılır.

Örnek Teslim Şartları: 

• Bütün örnekler düz ve parlatılmış olmalıdır.

• Örnekler maksimum 15 milimetrelik bir çap içerisine yerleştirilebilmelidir.

• İncelenecek yüzey yerleştirme yüzeyine paralel ve 8 milimetreden küçük olmalıdır.

 

İletişim: 

EMUM fiyat kataloğu için tıklayınız.
Endüstriyel hizmet başvuru dilekçesi için tıklayınız.

Yetkili: Cesim Narmanoğlu – Numune Kabul Birimi | Telefon: 0232 301 90 10 | E-Posta: cesim.narmanoglu@deu.edu.tr

EMUM Sekreterlik | Telefon: 0232 301 90 01 | E-Posta: emum@deu.edu.tr