SEM – Taramalı Elektron Mikroskobu

Marka / Model 

COXEM EM-30 Plus

Özellikler

Büyütme oranı: x20 – x150k (~ x80k)
Hızlandırıcı voltaj: 1kV – 30kV
Tabanca: Tungsten Filaman (w)
Detektör: SE Dedektör, BSE Dedektör
Maks. örnek boyutu: 45mm (Y), 30mm (Çap)
Vakum Sistemi: Turbo moleküler pompa (3 dakikadan az),
düşük vakum modu

Amaç 

SEM görüntüsü, yüksek voltaj ile hızlandırılmış elektronların, yüksek vakum
ortamında, numune üzerine odaklanması, bu elektron demetinin numune
yüzeyinde taratılması sırasında elektron ve numune atomları arasında oluşan
çeşitli etkileşimler sonucunda oluşan ürünlerin uygun algılayıcılarda toplanması
ve sonuç olarak ekrana aktarılmasıyla elde edilir. İkincil elektronlar
sayesinde numunenin yüksek çözünürlüğe sahip topografik görüntüsü elde
edilir. Ayrıca cihazda bulunan düşük vakum moduyla kaplama yapılmamış
yalıtkan örnekler, polimerler, cam örneklerin analizi yapılabilmektedir.
Doğal kaynakların morfolojisini araştırma uygulamaları, malzemelerin sahip
olduğu kusurların ve aşınma özelliklerinin saptanması, malzemelerin yüzey
özellikleri, kaplama kalınlığı, partikül boyutu, morfolojisi gibi özelliklerin belirlenmesinde
kullanılır, imal edilen bileşenlerin rutin analizler sonucunda
kalite standartlarına ve dayanıklılık gereksinimlerine uyup uymadığının araştırılmasında
kullanılmaktadır.

Örnek Teslim Şartları: 

• Toz numuneler minimum 30 mg olmalıdır.

• Numunelerin iletken yada yalıtkan olduğu belirtilmelidir.

• Numuneler nem içermemelidir.

• Katı numune ve ince film numune boyutları max 3×3 cm, yüksekliği de max 2 cm olmalıdır.

 

İletişim: 

EMUM fiyat kataloğu için tıklayınız.
Endüstriyel hizmet başvuru dilekçesi için tıklayınız.

Yetkili: Cesim Narmanoğlu – Numune Kabul Birimi | Telefon: 0232 301 90 10 | E-Posta: cesim.narmanoglu@deu.edu.tr

EMUM Sekreterlik | Telefon: 0232 301 90 01 | E-Posta: emum@deu.edu.tr