XPS – X Işını Fotoelektron Spektroskopisi


Marka / Model

Thermo Scientific K-Alpha

Özellikler

Analizör: 180° çift odaklama yarım küre
Dedektör: 128 kanal
Monkromatör: Al Kα mikro odaklı
Değişken spot büyüklüğü: 5 μm adımda 30-400 μm
Işın kaynağı: Çift kaynak
Elektron ışını: Ultra düşük enerjili
Veri sistemi: Avantage
İyon tabancası enerji aralığı: 100 eV – 4 keV
Örnek aşaması: 4 eksenli
Numune alanı: 60 × 60 mm
Maks. numune kalınlığı: 20 mm
Pompa sistemi: Giriş ve analiz odaları için 2x 260 l/s
turbomolekuler pompalar

Amaç

X-ışını Fotoelektron Spektroskopisi (XPS), yüksek bir yüzeye duyarlı, kantitatif, kimyasal analiz tekniğidir. XPS, X ışınları ile ışınlanmış bir malzemenin yüzeyinden çıkarılan fotoelektronların ölçümüdür. Yayılan fotoelektronların kinetik enerjisi doğrudan ana atom içindeki bağlanma enerjileriyle ilişkili olarak ölçülür; bu, elementin ve kimyasal durumunun özelliğidir. Yalnızca yüzeye yakın üretilen elektronlar algılama için çok fazla enerji kaybetmeden kaçabilir; Bu, XPS verilerinin yüzeyin en üstteki birkaç nanometresinden toplandığı anlamına gelir.

Örnek Teslim Şartları: 

 

İletişim: 

EMUM fiyat kataloğu için tıklayınız.
Endüstriyel hizmet başvuru dilekçesi için tıklayınız.

Yetkili: Cesim Narmanoğlu – Numune Kabul Birimi | Telefon: 0232 301 90 10 | E-Posta: cesim.narmanoglu@deu.edu.tr

EMUM Sekreterlik | Telefon: 0232 301 90 01 | E-Posta: emum@deu.edu.tr