XRD – X Işını Difraktometresi


Marka / Model 

Thermo Scientific ARL X’TRA

Özellikler

X-ışını kaynağı: Cu-Kα, Ni filtreli
Kaynak voltajı: 15 – 60 kV
Kaynak akımı: 5 – 60 mA
Normal tarama hızı: (0.1° 2θ/s)
Tarama aralığı: 0 – 89° (2-Theta)
Maks. gerilim ve akım: 60 kV, 55 mA
Açısal çözünürlük: <0.04° FWHM

Numune:
Toz: 150 mg
Katı ve ince film: Min. 0,5 x 0, 5 cm
Maks. 2 x 2 cm

Amaç 

X-Işını Kırınım yöntemi (XRD), her bir kristalin fazın kendine özgü atomik dizilimlerine bağlı olarak, X-ışınlarını karakteristik bir düzen içerisinde kırması esasına dayanır. Her bir kristalin faz için bu kırınım profilleri nicel olarak o kristali tanımlar. X-Işını Kırınım analiz metodu, analiz sırasında numuneyi tahrip etmez ve çok az miktardaki numunelerin dahi analizlerinin yapılmasını sağlar. XRD cihazıyla numunelerin kırınım profilleri ile birlikte faz analizi (search match) ve tekstür analizleri de yapılabilmektedir.

Toz, bulk ve ince film kaplamaların kırınım profillerinin çıkarılmasında, minerallerin ve kayaçların tanımlanmasında, metal ve alaşım analizlerinde, polimerlerin analizinde, kırınım profili çıkarılan numune için fazların belirlenmesinde, polikristal katı malzemelerde tekstür analizi ile kristallerin tercihli yönlenmelerinin belirlenmesinde kullanılmaktadır.

 

 

Örnek Teslim Şartları: 

 

 

İletişim: 

EMUM fiyat kataloğu için tıklayınız.
Endüstriyel hizmet başvuru dilekçesi için tıklayınız.

Yetkili: Cesim Narmanoğlu – Numune Kabul Birimi | Telefon: 0232 301 90 10 | E-Posta: cesim.narmanoglu@deu.edu.tr

EMUM Sekreterlik | Telefon: 0232 301 90 01 | E-Posta: emum@deu.edu.tr