Özellikler

X-ışını kaynağı: Cu-Kα, Ni filtreli
Kaynak voltajı: 15 – 60 kV
Kaynak akımı: 5 – 60 mA
Normal tarama hızı: (0.1° 2θ/s)
Tarama aralığı: 0 – 89° (2-Theta)
Maks. gerilim ve akım: 60 kV, 55 mA
Açısal çözünürlük: <0.04° FWHM

Numune:
Toz: 150 mg
Katı ve ince film: Min. 0,5 x 0, 5 cm
Maks. 2 x 2 cm

Amaç 

X-Işını Kırınım yöntemi (XRD), her bir kristalin fazın kendine özgü atomik dizilimlerine bağlı olarak, X-ışınlarını karakteristik bir düzen içerisinde kırması esasına dayanır. Her bir kristalin faz için bu kırınım profilleri nicel olarak o kristali tanımlar. X-Işını Kırınım analiz metodu, analiz sırasında numuneyi tahrip etmez ve çok az miktardaki numunelerin dahi analizlerinin yapılmasını sağlar. XRD cihazıyla numunelerin kırınım profilleri ile birlikte faz analizi (search match) ve tekstür analizleri de yapılabilmektedir.