Marka / Model 

Özellikler

Büyütme oranı: x20 – x150k (~ x80k)
Hızlandırıcı voltaj: 1kV – 30kV
Tabanca: Tungsten Filaman (w)
Detektör: SE Dedektör, BSE Dedektör
Maks. örnek boyutu: 45mm (Y), 30mm (Çap)
Vakum Sistemi: Turbo moleküler pompa (3 dakikadan az),
düşük vakum modu

Amaç 

SEM görüntüsü, yüksek voltaj ile hızlandırılmış elektronların, yüksek vakum ortamında, numune üzerine odaklanması, bu elektron demetinin numune yüzeyinde taratılması sırasında elektron ve numune atomları arasında oluşan çeşitli etkileşimler sonucunda oluşan ürünlerin uygun algılayıcılarda toplanması ve sonuç olarak ekrana aktarılmasıyla elde edilir. İkincil elektronlar sayesinde numunenin yüksek çözünürlüğe sahip topografik görüntüsü elde edilir. Ayrıca cihazda bulunan düşük vakum moduyla kaplama yapılmamış yalıtkan örnekler, polimerler, cam örneklerin analizi yapılabilmektedir. Doğal kaynakların morfolojisini araştırma uygulamaları, malzemelerin sahip olduğu kusurların ve aşınma özelliklerinin saptanması, malzemelerin yüzey özellikleri, kaplama kalınlığı, partikül boyutu, morfolojisi gibi özelliklerin belirlenmesinde kullanılır, imal edilen bileşenlerin rutin analizler sonucunda kalite standartlarına ve dayanıklılık gereksinimlerine uyup uymadığının araştırılmasında kullanılmaktadır.

Örnek Teslim Şartları: 

• Toz numuneler minimum 30 mg olmalıdır.

• Numunelerin iletken yada yalıtkan olduğu belirtilmelidir.

• Numuneler nem içermemelidir.

• Katı numune ve ince film numune boyutları max 3×3 cm, yüksekliği de max 2 cm olmalıdır.