İleri Nanoteknoloji Laboratuvarı
İleri Nanoteknoloji Laboratuvarında Bulunan Cihazlar:
- Fourier Dönüşümlü Kızılötesi Spektroskopisi (FTIR)
- Nanopartikül boyutu ve Zeta Potansiyeli Ölçüm Cihazı (Zetasizer)
- Termogravimetrik ve Diferansiyel Termal Analiz (DTA -TG)
- Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)
- Nanoindentasyon Sistemi
- Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM)
Marka / Model
Thermo scientific NICOLET iS10
Özellikler
Spektrum Aralığı: 4000 – 400 cm-1
Derinlik: 550 mm
ATR (Azaltılmış Toplam Yansıma) aparatı: Var
Amaç
Fourier dönüşümü kızılötesi (FTIR) spektroskopisi, organik bileşiklerin kalitatif ve kantitatif analizi için kullanılmaktadır ve moleküler yapı, kimyasal bağ ve moleküler ortam hakkında özel bilgiler sağlar. Cihaza ait dayanıklı, yüksek performanslı elmas ATR yüksek kalite spektral veri alınmasını sağlar. Ayrıca uçucu sıvıların analizine de olanak sağlar.
Başvuru İçin Tıklayınız
Marka / Model
Malvern Nano ZS
Özellikler
Ölçüm aralığı: 0,3 nm – 10,0 μm (Ø)
Ölçüm prensibi: Dinamik ışık saçılımı
Min. örnek hacmi: 12 μL
Zeta potansiyel aralığı: > ± 500 mV
Hareketlilik aralığı: > ± 20 μ.cm/V.s
Maksimum numune iletkenliği: 200 mS/cm
Amaç
90 derecelik açıda bulunan dedektörü ve dinamik ışık saçılımı metodu ile, giriş seviyesinde partikül ve moleküler boyut ölçümü yapan bir cihazdır. Ayrıca, Laser Doppler Microelectrophoresis metodu ile zeta potansiyel ve elektroforetik mobilite ölçümüne de olanak sağlar.
Marka / Model
Perkin Elmer STA 6000
Özellikler
Sensör: Platin örnek tutucu
Referans halkası
Denge çöz.: 0.1 μg
Sıcaklık aralığı: Oda sıc. – 1000°C
Isıtma hızı: 0.1 to 100 °C/dk
Örnek tutucu: Alumina 180 μl
Amaç
DTA / TG cihazı çeşitli malzemelerin erime,
camsı geçiş sıcaklığı, süblimleşme sıcaklıkları,
kütle kaybı/kazancı, faz değişimi ve
oksitlenme gibi özellikleri belirlenmesinde
kullanılmaktadır.
Örnek Teslim Şartları:
• Toz numunelerin miktarı minimum 5-15 mg arasında olmalıdır.
• Katı malzeme örnekleri, max 3×3 mm boyutlarında olmalı, maksimum numune kalınlığı 3 mm olmalıdır (toz halinde olmaları tercih edilir).
• Analizin gerçekleştirileceği atmosfer ortamı (Azot/Hava) ve sıcaklık belirtilmelidir.
Başvuru İçin Tıklayınız
Marka / Model
Nanosurf NaioAFM
Özellikler
Görüntüleme modları: Statik Kuvvet, Dinamik Kuvvet, Faz
Kontrast, MFM, EFM
Maksimum tarama aralığı: 70 μm (1,0 nm)
Tarama yüksekliği (çözünürlük): 14 μm (0,2 nm)
Maks. numune boyutu / yüksekliği: 12 mm / 3.5 mm
Gürültü Seviyesi (Statik/Dinamik RMS Z) : 0.4 nm (max 0.8 nm) / 0.3 nm (max 0.8 nm)
Amaç
Atomik boyutlara kadar sivriltilmiş bir iğne ucu yardımıyla, yüzeyin yüksek çözünürlükte, üç boyutlu görüntülenmesini sağlar. Görüntüleme, iğne ucunun yüzey ile etkileşiminin incelenmesi sonucunda gerçekleştirilir.
Başvuru İçin Tıklayınız
Marka / Model
IBIS/IBIS Nanoindentation System
Özellikler
Nanoindentasyon Özellikleri:
Yük aralığı: 0‐500 mN
Dijital çözünürlük: 0.05 μN
Gürültü zemini: <1 μN
Minimum kontak yükü: 5 μN
Derinlik Aralığı: 0-20 μm
Dijital çözünürlük: 0.003 nm
Gürültü tabanı: 0.05 nm
Yüzey pürüzlülüğü: <1 μm
Kazıma Testi Özellikleri:
Yanal kuvvet aralığı: ± 20 mN / ± 200 mN çift aralık
Teorik çözünürlük: 0.0006 mN / 0.006 mN
Gerçek gürültü tabanı: 0,005 mN / 0,01 mN
Maksimum kazıma uzunluğu: 66 mm standart
Maksimum kazıma hızı: 2000 μm/sn
Amaç
Nano indentasyon test cihazı değişik malzemelerden oluşturulan ince filmlerin mekanik özelliklerini (sertlik, elastisite modülü) belirlemekte kullanılır. Uygun bir indenter kullanılarak örnek yüzeyine dik olacak şekilde belirlenen bir maksimum değere kadar yük uygulanır ve bu maximum yük değerine ulaştıktan sonra tekrar dereceli olarak geri yükleme yapılır. Yükleme ve geri yükleme sonucunda elde edilen Yük (N) – Derinlik (nm) eğrileri analiz edilerek numunenin mekanik özellikleri belirlenir.
Kazıma test cihazı ince film ve kaplamaların yüzeylerinin kırılma, deformasyon ve yapışma gibi mekanik özelliklerini belirlemek için kullanılır. Aynı zamanda altlık ve film sisteminin sürtünme ve yapışma kuvvetini karakterize etmede kullanılır.
Örnek Teslim Şartları:
• Bütün örnekler düz ve parlatılmış olmalıdır.
• Örnekler maksimum 15 milimetrelik bir çap içerisine yerleştirilebilmelidir.
• İncelenecek yüzey yerleştirme yüzeyine paralel ve 8 milimetreden küçük olmalıdır.
Başvuru İçin Tıklayınız
Marka / Model
COXEM EM-30 Plus
Özellikler
Büyütme oranı: x20 – x150k (~ x80k)
Hızlandırıcı voltaj: 1kV – 30kV
Tabanca: Tungsten Filaman (w)
Detektör: SE Dedektör, BSE Dedektör
Maks. örnek boyutu: 45mm (Y), 30mm (Çap)
Vakum Sistemi: Turbo moleküler pompa (3 dakikadan az), düşük vakum modu
Amaç
SEM görüntüsü, yüksek voltaj ile hızlandırılmış elektronların, yüksek vakum ortamında, numune üzerine odaklanması, bu elektron demetinin numune yüzeyinde taratılması sırasında elektron ve numune atomları arasında oluşan çeşitli etkileşimler sonucunda oluşan ürünlerin uygun algılayıcılarda toplanması ve sonuç olarak ekrana aktarılmasıyla elde edilir. İkincil elektronlar sayesinde numunenin yüksek çözünürlüğe sahip topografik görüntüsü elde edilir. Ayrıca cihazda bulunan düşük vakum moduyla kaplama yapılmamış yalıtkan örnekler, polimerler, cam örneklerin analizi yapılabilmektedir. Doğal kaynakların morfolojisini araştırma uygulamaları, malzemelerin sahip olduğu kusurların ve aşınma özelliklerinin saptanması, malzemelerin yüzey özellikleri, kaplama kalınlığı, partikül boyutu, morfolojisi gibi özelliklerin belirlenmesinde kullanılır, imal edilen bileşenlerin rutin analizler sonucunda kalite standartlarına ve dayanıklılık gereksinimlerine uyup uymadığının araştırılmasında kullanılmaktadır.
Örnek Teslim Şartları:
• Toz numuneler minimum 30 mg olmalıdır.
• Numunelerin iletken yada yalıtkan olduğu belirtilmelidir.
• Numuneler nem içermemelidir.
• Katı numune ve ince film numune boyutları max 3×3 cm, yüksekliği de max 2 cm olmalıdır.
Başvuru İçin Tıklayınız