Karakterizasyon Cihazları
- Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)
- DTA / TG – Termogravimetrik ve Diferansiyel Termal Analiz
- FTIR – Fourier Dönüşümlü Kızılötesi Spektroskopisi
- Hall Effect Ölçüm Cihazı
- I-V Ölçüm Cihazı
- İğne Alev Test Cihazı
- İnce Film Kalınlık Ölçüm Cihazı
- İndüktif Eşleşmiş Plazma-Optik Emisyon Spektrometresi (ICP-OES)
- Nano İndentasyon
- Nano Partikül Boyut ve Zeta Potansiyel Ölçüm Cihazı (Zetasizer)
- Özdirenç Ölçüm Standı
- SEM – Taramalı Elektron Mikroskobu
- UV-Vis Spektrofotometre
- Vektör Network Analizör
- VSM – Titreşimli Numune Manyetometresi
- XPS – X Işını Fotoelektron Spektroskopisi
- XRD – X Işını Difraktometresi
- Zaman Çözümlemeli Fotolüminesans Spektrometre (PL)