Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)
Marka / Model
Nanosurf NaioAFM
Özellikler
Görüntüleme modları: Statik Kuvvet, Dinamik Kuvvet, Faz
Kontrast, MFM, EFM
Maksimum tarama aralığı: 70 μm (1,0 nm)
Tarama yüksekliği (çözünürlük): 14 μm (0,2 nm)
Maks. numune boyutu / yüksekliği: 12 mm / 3.5 mm
Gürültü Seviyesi (Statik/Dinamik RMS Z) : 0.4 nm (max 0.8 nm) / 0.3 nm (max 0.8 nm)
Amaç
Atomik boyutlara kadar sivriltilmiş bir iğne ucu yardımıyla, yüzeyin yüksek çözünürlükte, üç boyutlu görüntülenmesini sağlar. Görüntüleme, iğne ucunun yüzey ile etkileşiminin incelenmesi sonucunda gerçekleştirilir.
Başvuru İçin Tıklayınız